三維表面輪廓儀是一種先進的測量設(shè)備，主要用于測量和分析物體表面的三維輪廓和形貌。其主要基于光學原理進行測量。它利用激光或其他光源投射到被測物體表面，通過接收反射光或散射光，結(jié)合計算機圖像處理技術(shù)，獲取物體表面的三維坐標數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)可以進一步用于分析物體表面的形狀、粗糙度、紋理等特征。
三維表面輪廓儀的技術(shù)特點：
1、高精度測量：具備納米級的檢測精度，能夠精確獲取工件表面的三維形貌和數(shù)據(jù)。
2、大垂直掃描范圍：某些設(shè)備提供150um的壓電陶瓷驅(qū)動垂直掃描，以及最大可達20mm的擴展掃描能力。
3、出色的重復(fù)性：重復(fù)性小于0.1nm RMS，確保測量結(jié)果的可靠性。
4、橫向分辨能力：空間采樣率可達到0.30um（使用100X物鏡時）甚至更高，這允許設(shè)備捕捉到微觀細節(jié)。
5、快速掃描速度：最大掃描速度可達96um/s，提高了檢測效率。
6、臺階測量線性度：重復(fù)性≤0.1%，保證了測量的準確性。
7、多功能性：除了用于半導體、微機電系統(tǒng)等領(lǐng)域的質(zhì)量控制，還可以應(yīng)用于文物保護、地形測繪等多個行業(yè)。
總的來說，三維表面輪廓儀是一種高新技術(shù)產(chǎn)品，其技術(shù)特點使其在精密工程和科學研究中扮演著重要角色。通過這些特點，三維表面輪廓儀能夠為用戶提供精確的表面形貌測量，從而保證產(chǎn)品質(zhì)量和科研數(shù)據(jù)的有效性。
更新時間：2024-05-14
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當前位置：
三坐標測量儀